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您的位置:首页 > 产品中心 > 全聚焦型双曲面弯晶 > 全聚焦型双曲面弯晶(HF DCC)



  •         众所周知,
    X射线管出射的X射线光谱由靶材元素的特征线和轫致辐射连续谱组成,轫致辐射连续谱在样品上的散射是X射线荧光光谱分析中被测元素谱线背景的主要来源,是影响微量元素检出限的最主要原因。



           因此,理想的用于激发样品元素的激发源如下特点:
    • 单一能量入射(单色化入射)样品,减少连续谱线对被测元素的背景干扰;
    • 入射能量略高于待测元素的吸收边,激发效率高;
    • 入射强度高且稳定的激发源,提升待测元素的荧光强度;
    • 入射能量聚焦到样品较小点或面,利于元素荧光射线的收集和探测;

           Johansson型双曲面弯晶具备以上特点的理想激发源,双曲面弯晶可以将光管特征X射线单色化,将入射X射线聚焦到样品较小面,同时,不同角度和材质的双曲面弯晶可以用于选择不同波长的射线,从而达到选择性和高效率激发样品中元素的能力。



     

            全聚焦型双曲面弯晶(Johansson-typeDCC)能够对微焦斑X射线管出射的高强特征X射线进行Bragg衍射单色化并聚焦到直径数十到数百微米的聚焦面,对样品中的元素进行单波长激发,由于不再有连续谱入射到样品上,被测元素特征线理论上不存在连续的散射背景,因而具有极佳的峰背比,极低的检出限,可以对微量甚至痕量元素进行定性定量检测。
     



     


  • • 全聚焦型双曲面弯晶(Johansson-type DCC),可对微焦斑X射线管出射的X射线准确聚焦于微小聚焦点,高X射线通量和单色化入射;
    • 在罗兰圆方向和旋转方向均可进行多块晶体拼接,成倍增大衍射立体角;
    • 单色化X射线入射并激发样品中元素,极大降低了X射线光管连续谱对检测元素的连续背景,可对微量元素甚至痕量元素进行精确定量分析;
    • 微小的聚焦点,可实现微区精确定量分析,尤其适合其中微量元素的分析;
    • 使用寿命长,长时间使用不会带来性能的降低;
    • 选择不同材质和设计角度,可用于衍射不同靶材的特征谱线;



     

  • • 低背景XRF:单波长激发X射线荧光光谱仪Monochromatic XRF;
    • 波长色散X射线荧光光谱仪:增大衍射立体角波长色散X射线荧光光谱仪;
    • 微区分析:与微焦斑X射线光管组成微区元素成份分析;
    • 元素成像:与显微镜组成高精度、高灵敏度(亚ppm)、高空间分辨率的元素成像系统;
    • 全反射XRF:达到极低检出限的元素成份分析(ppb级别);
    • XRD:提升X射线衍射光谱性能;






     

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